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高精度薄膜厚度仪参数(0.1μm)
高精度薄膜厚度仪参数(0.1μm)
品牌:SYSTESTER | 加工定制:是 | 型号:1801 | ||||
类型:塑料 | 测量范围:见内容 mm | 显示方式:液晶数显 | ||||
电源电压:220 V | 外形尺寸:详细见内容 mm |
产品特性:薄膜高精度测厚仪,薄膜厚度检测仪,思克测厚检测仪,材料厚度检测仪
产品简介:品牌:SYSTESTER ;加工定制:是 ;型号:1801 ;类型:塑料 ;测量范围:见内容 mm;显示方式:液晶数显 ;电源电压:220 V;外形尺寸:详细见内容 mm
详细介绍:
本页信息为济南思克测试技术有限公司为您提供的“供应高精度薄膜厚度仪参数(0.1μm)”产品信息,如您想了解更多关于“高精度薄膜厚度仪参数(0.1μm)”价格、型号、参数及厂家信息,请联系 , !
产品特点:
32位嵌入式系统控制技术
专利技术,扁平化设计,直观,操作方便
触摸屏操作
所有操作均可在一个平面内完成,无须进入退出操作
TFT真彩色液晶显示
接触式厚度测量
测试过程自动化完成
手动、自动双重测量模式
可采用标准厚度计量工具标定、检验
符合GB,ASTM等多种标准规定,标准接触面积、测量压力(可定制)
内嵌*大值、*小值、平均值、标准差等数据统计分析功能
量程可调(可根据要求定制)
配置微型打印机,可自动打印试验数据
配置标准RS232通信口,利用*计算机软件可*大限度地挖掘试验数据价值
可支持以太网通信,方便数据联网(选购)
可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)
技术指标:
测量范围:0~2mm(常规)
0~6mm;12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:15次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
标准:
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353
SYSTESTER思克,为您提供精品-检测仪器、科学-检测服务、安全-数据托管 ,药品包材指标检测、药品包装性能检测、*包装检测、食品包装指标检测、食品包装性能检测、气调包装及印刷残留检测、有机迁移检测…包装检测仪器,首选思克测试!思克将回报您更多意想不到的操作体验和*服务。思克测试,诚信企业!更多THI-1801高精度薄膜厚度仪参数(0.1μm)信息,请致电 或 垂询!SYSTESTER思克,*+创新+技术+产品+服务;SYSTESTER思克,More than your think!
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0~6mm;12mm(可选)
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测量速度:15次/min(可调)
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接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
标准:
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353
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