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热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER
品牌:SYSTESTER | 加工定制:是 | 型号:HSL | ||||
测量范围:各种塑料薄膜、复合膜、镀铝膜、 | 测量对象:热封温度、热封压力、热封时间 | 温度范围:室温 + 8℃~300℃ ℃ | ||||
电源:AC 220V 50Hz mm | 重量:41 kg | 适用范围:塑料薄膜、复合膜、镀铝膜等材料 |
产品特性:收缩力测试,冷缩力测试,薄膜热缩仪,收缩力测试
产品简介:品牌:SYSTESTER ;加工定制:是 ;型号:HSL ;测量范围:各种塑料薄膜、复合膜、镀铝膜、 ;测量对象:热封温度、热封压力、热封时间 ;温度范围:室温 + 8℃~300℃ ℃;电源:AC 220V 50Hz mm;重量:41 kg;适用范围:塑料薄膜、复合膜、镀铝膜等材料
详细介绍:
友情提示:店铺价格仅供参考,不作为实际交易价格!
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER应用范围
适用于各种热收缩性薄膜等材料收缩率、收缩力等指标的定量测试。
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER主要特点
计算机控制
多组样品收缩率、收缩力同时测试
自动控温,一键试验,自动结束
支持DSM实验室数据管理系统,可实现数据统一管理(选购)
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER技术指标
收缩力量程:100N(标配)
收缩力精度:±0.08%FSMAX
位移量程:100 mm
位移精度:±0.125mm
温度范围:室温~300℃
控温精度:±0.3℃
试样数量:3组(6个试样)
试样尺寸:不小于130mm×15mm
气源要求:干燥空气,0.6MPa(气源用户自备)
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER执行标准
ISO-14616、DIN 53369
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER产品配置
主机、配置软件、PCIE数据扩展卡、通信电缆、取样器
注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改权与解释权!
计算机控制
多组样品收缩率、收缩力同时测试
自动控温,一键试验,自动结束
支持DSM实验室数据管理系统,可实现数据统一管理(选购)
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER技术指标
收缩力量程:100N(标配)
收缩力精度:±0.08%FSMAX
位移量程:100 mm
位移精度:±0.125mm
温度范围:室温~300℃
控温精度:±0.3℃
试样数量:3组(6个试样)
试样尺寸:不小于130mm×15mm
气源要求:干燥空气,0.6MPa(气源用户自备)
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER执行标准
ISO-14616、DIN 53369
热收缩薄膜热封性能测试仪SYSTESTER产品配置
主机、配置软件、PCIE数据扩展卡、通信电缆、取样器
注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改权与解释权!